小视场，大影响：AT全新XCS传感器革新电子行业
在半导体行业，成败往往取决于最细微的细节。AT自动化技术公司推出的全新XCS系列3D传感器，正是一款颠覆性的产品，尤其能为电子行业的高性能应用带来革命性变革。
亮点：
- 凭借双探头选项及高达3072或4096点/轮廓的极高轮廓扫描速度，实现无遮挡的独特3D扫描结果
- 凭借高品质激光线投影技术，实现高精度测量与最细微表面细节的检测
- 电子检测（如BGA检测）领域无可匹敌的分辨率，视野范围可达2.08英寸（53毫米）
- 3070 WARP传感器型号可实现最高检测速度
