全新XCS系列！
视野虽小，影响巨大：AT公司推出的新款XCS传感器正重塑电子行业
在半导体行业，往往是那些最细微的细节决定了成败。AT – Automation Technology 凭借其新推出的 XCS 系列 3D 传感器，向市场推出了一款真正具有颠覆性的产品，尤其适用于电子行业的高性能应用。
重点：
- 凭借双探头选项，可获得独特的3D扫描结果，且无遮挡现象；同时具备极高的轮廓扫描速度，可达3072或4096点/轮廓
- 凭借高品质的激光线投影技术，可实现高精度检测，并捕捉最细微的表面细节
- 在电子元件检测（例如BGA检测）领域拥有无与伦比的分辨率，视野范围可达2.08英寸（53毫米）
- 3070 WARP 传感器型号可实现最高检测速度
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