當每一微米都至關重要時：AT 為其高性能 XCS 系列新增 5 GigE 機型
要測量細微如單一紅血球般的細節？對 AT – Automation Technology 推出的新款C7 XCS 3070而言，這根本不是問題。這款高性能感測器為線上品質控制帶來極致精準度——體積小巧、反應迅捷，且現已配備5 GigE 介面。
觀看影片，了解這款感測器如何將半導體、電子及先進封裝產業的檢測技術提升至全新境界！
三大優勢一覽：
- 細胞級精準度：X 軸解析度達 7.8 微米，Z 軸解析度達 0.13 微米，即使是最微小的微結構也能清晰呈現。
- 5 Gbit/s 高速資料傳輸：憑藉 NBASE-T 介面，可同步且即時傳輸輪廓資料、強度及反射資訊。
- 超薄雷射光線：高度均勻的 405 nm 雷射光線，可確保在整個視野範圍內皆能獲得一貫精準的測量結果。
適用於對時間要求嚴苛的應用：亦提供配備感測器內建資料處理功能，且採樣率最高可達 94 kHz 的WARP 版本！
讓您的生產發揮最大效益！