全新 XCS 系列！
視野狹窄，影響深遠：AT 推出的全新 XCS 感測器正徹底改變電子產業
在半導體產業中，往往就是那些最微小的細節，決定了成敗的關鍵。AT – Automation Technology 憑藉其新推出的 XCS 系列 3D 感測器，將一款真正能改變遊戲規則的產品推向市場，尤其對於電子產業中的高性能應用而言更是如此。
重點：
- 憑藉雙掃描頭選項，可獲得獨特的 3D 掃描結果，且無遮擋現象；同時具備極高的輪廓掃描速度，可達 3072 或 4096 點/輪廓
- 憑藉高品質的雷射線投影技術，實現高精度檢測，並能捕捉最細微的表面細節
- 在電子元件檢測（例如 BGA 檢測）領域中具備無與倫比的解析度，視野範圍可達 2.08 英吋（53 公釐）
- 採用 3070 WARP 感測器型號時，可達到最高的檢測速度
讓您的生產發揮最大效益！