AT 深度解析：C7 XCS
欢迎收看《AT Uncovered》的新一期节目！今天，我们将重点介绍 C7 XCS——AT 推出的新款高精度 3D 激光轮廓传感器。
C7 XCS 搭载 5 千兆以太网，标准采样率高达 95 kHz，可提供卓越的速度和数据处理性能。借助 WARP 技术，其性能更上一层楼——实时采样率可达 140 kHz。
高达0.13 µm的高度分辨率和7.8 µm的横向分辨率，使其成为检测最细微表面细节的理想工具。结合Clean-Beam技术和对GenICam的全面支持，可靠性已融入其中。
无论是BGA检测、AI芯片测试、先进封装还是电动汽车领域——C7 XCS都是您应用场景所需的精密性能之选。
让您的生产效率最大化！