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/ 產品 /STEC 目標

外在校準用球形目標

  • 四種型號依X-FOV而定 -> 寬度約為X-FOV的80-90%
  • 可測量與不可測量
  • 簡易外在校準
  • 提升測量品質
  • 運輸錯誤更正
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針對我們3D感測器的最佳外在校準解決方案

新型球形外在參數校準標靶(STEC)是AT為其3D感測器提供最佳外在參數校準的終極解決方案。透過此標靶,您可使用免費下載的SolutionPackage執行校準作業。此流程能修正運輸誤差,並將所有掃描數據轉換至共通座標系,從而提升測量精度。

為獲得更高精度,我們建議您選購附帶測量協議的版本,因為當精確知曉球體中心的具體位置時,校準效果最佳。

我們樂意為您提供特殊設置的目標建議!

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  • 三維測量技術
  • 多掃描器配置
  • uk-img
  • 關於 STEC 目標的常見問題

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    在我們的常見問題解答中,我們已針對感測器、相機、介面及應用程式等主題,系統性地彙整了最常被問及的問題。
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