搭載 AT 獨家感測器晶片的 3D 掃描器,具備 WARP 級速度
2024年4月9日

快、更快、最快:AT – Automation Technology 近期開發出專屬的感測器晶片,使 AT 3D 感測器在解析度與速度的結合方面,成為全球最快的產品。 這項 3D 掃描技術之所以能達到極致速度,關鍵在於 CMOS 晶片的晶片內處理技術:該技術能識別雷射光線,並透過智慧演算法進行無損壓縮,僅傳輸相關數據。因此,C6 3070 感測器實現了無與倫比的 3D 輪廓像素率,最高可達 1.28 億像素,相當於每秒 1.28 億個 3D 點。
對客戶而言,其特別優勢在於最高可達 204 kHz 的輪廓測量速度。這種所謂的 WARP 速度,使測量速度比傳統感測器高出十倍,因此 3D 掃描速度也快上十倍,這為這家北德科技公司的模組化緊湊型感測器系列(MCS)開闢了全新的可能性。 MCS 基於模組化系統,包含多種感測器、雷射及連接模組,並能透過三角測量角度與工作距離的靈活配置進行個別組合,從而實現針對特定應用進行最佳化的掃描寬度、測量精度與測量速度。
例如,C6 3070 MCS 感測器專為路面測量等應用而設計。憑藉其模組化設計,該感測器具備寬廣的視野,得以掃描整條道路的寬度。此外,由於具備高動態範圍,該感測器能夠在不同速度下掃描路面,因此無論是運動模糊或不同類型的路面,都不會構成問題。 新款 C6 3070 MCS 感測器更具備高達 3,072 個輪廓點的驚人解析度。所有 AT 感測器皆支援主從模式運作,可讓多個感測器同步協同作業。透過隨附的免費「MetrologyPackage」軟體,僅需數分鐘即可完成多個感測器之間的相互校正。
因此,AT 的晶片內處理具備以下優勢:
- 全球最快的 3D 輪廓測量
- 直接在感測器晶片上進行的智慧型資料壓縮
- 3D 掃描速度最高可提升十倍





