3D 電子元件檢測邁向新境界:AT 推出的MultiPart MultiPeak
2021年11月12日

在提升電子產業零組件品質管控的可靠性方面,精準偵測最微小的瑕疵是首要任務。為了精確優化這項檢測流程,AT – Automation Technology 為其 3D 感測器配備了全球獨有的功能,透過全新的 C6 系列,將檢測水準提升至嶄新境界。 因此,客戶僅需利用 3D 點雲進行定位的時代已然終結。此處關鍵的新功能是MultiPart,它允許同時輸出多達十種不同的特徵,且不受像素格式或演算法的限制。
除了關於不同峰值(MultiPeak)的資訊——這對於抑制雷射光線的二次反射往往不可或缺MultiPart 客戶提供反射率、散射或可信度等額外數據。這不僅能夠生成被檢測物體的逼真影像,取代以往簡單的點雲,也使得實施 2D 檢測任務(例如字元辨識或 QR 碼檢測)變得非常容易。 而且這一切皆符合最新的 GenICam3D 標準,並採用即插即用原則,不僅在精度方面開闢了全新的視野,也使應用開發進程顯著加快。 因此,AT 推出的 C6 系列新款 3D 感測器具備極具創新性且高度精準的特性,特別是在檢測微型電子元件時,更能展現其巨大優勢。[sc_image position=”centered” disable_lightbox=”1″ src=”/8698″]





