Die Inspektion von Ball Grid Arrays (BGA) stellt in der Elektronikindustrie eine entscheidende Qualitätskontrollmaßnahme dar. AT Sensors hat den 3D-Sensor CS 3070 speziell für diese Aufgabe entwickelt.
Die BGA-Inspektion erfordert eine extrem genaue und schnelle Sensorik, um selbst kleinste Abweichungen und Fehler schnell zu erkennen. Darüber hinaus ist eine detaillierte Auswertung der 3D-Punktewolke für eine umfassende Qualitätssicherung unerlässlich.
Der CS 3070 3D-Sensor von AT bietet in der Kombination aus Auflösung und Geschwindigkeit die weltweit schnellste 3D-Sensorik. Sein On-Chip-Processing ermöglicht eine direkte Datenverarbeitung auf dem Sensor, was zu einer schnelleren Ausgabe der Ergebnisse führt. Einzigartige Funktionen wie MultiPart und MultiPeak ermöglichen eine detaillierte Auswertung der 3D-Punktewolke, was eine noch genauere BGA-Inspektion gewährleistet.
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