Wenn jeder Mikrometer zählt: AT erweitert seine leistungsstarke XCS-Serie um 5 GigE

Details messen, die so klein sind wie ein einzelnes rotes Blutkörperchen? Kein Problem für den neuen C7 XCS 3070 von AT – Automation Technology. Dieser Hochleistungssensor sorgt für höchste Präzision bei der Inline-Qualitätskontrolle – kompakt, blitzschnell und jetzt mit einer 5-GigE-Schnittstelle ausgestattet.

Sehen Sie sich das Video an und erfahren Sie, wie dieser Sensor die Qualitätsprüfung in der Halbleiter-, Elektronik- und High-End-Verpackungsindustrie auf ein neues Niveau hebt!

Die 3 wichtigsten Vorteile auf einen Blick:

• Präzision auf Zellebene: Eine X-Auflösung von 7,8 µm und eine Z-Auflösung von 0,13 µm machen selbst kleinste Mikrostrukturen sichtbar.
• 5 Gbit/s Hochgeschwindigkeitsdaten: Dank der NBASE-T-Schnittstelle werden Profildaten, Intensität und Reflexionsinformationen gleichzeitig und in Echtzeit übertragen.
• Ultradünne Laserlinie: Die äußerst homogene 405-nm-Laserlinie garantiert durchgehend präzise Messergebnisse über das gesamte Sichtfeld hinweg.

Für zeitkritische Applikationen: Auch als WARP-Variante mit Datenverarbeitung auf dem Sensor und Abtastraten von bis zu 94 kHz erhältlich!