Ebenheitsprüfung mit der C7 CA-Serie

Was macht unsere neue C7-3D-Kamera zu einem Must-have in der Halbleiterindustrie? Ganz klar: ein fünfmal höherer Datendurchsatz von 5 Gigabit/s und eine Auflösung von 3072 Pixeln pro Profil – ideal für die Prüfung kleinster Bauteile im Mikrometerbereich.

Ob Substratebenheit oder anspruchsvolle Material- und Reflexionseigenschaften – die C7 liefert präzise Ergebnisse bei hohem Durchsatz. Dank direkter LaserLink-Anbindung und 5G-Ethernet lässt sie sich zudem problemlos in bestehende Prozesse integrieren.