Kompakte Sensorserie: Der Maßstab für die Prüfung der BGA-Ebenheit

Erleben Sie die perfekte Kombination aus Hochgeschwindigkeitsleistung und industrieller Präzision mit derCompact Sensor (CS)-Serievon AT. Diese Serie wurde speziell für die Herausforderungen der BGA-Planaritätsprüfung entwickelt und bietet einemaßgeschneiderte Lösungfür die Qualitätskontrolle in der Halbleiterindustrie.

Durch die Integration eines speziell entwickeltenGehäuseeliminiert die CS-SerieMessartefakte zuverlässig und liefert selbst auf komplexen Oberflächen saubere, verwertbare Daten. Mit einem großzügigen Sichtfeld (FoV) von 180 x 180 mm und einer rasanten Abtastrate von98.000 Profilen/s können Sie sicherstellen, dass jede Lötkugel perfekt ausgerichtet ist, ohne die Produktionsgeschwindigkeit zu beeinträchtigen.